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日本半導體靜電測試儀

簡(jiǎn)要描述:日本半導體靜電測試儀陣容有:
●1100-ESD(ESD試驗專(zhuān)用型號)
●1100-CDM (CDM試驗專(zhuān)用型號)
●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗專(zhuān)用型號)

  • 產(chǎn)品型號:1100-ESD/CDM/LUP
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-11-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:731
詳細介紹
品牌TET應用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車(chē),綜合

日本TET東京電子交易株式會(huì )社 ESD1100系列共分為3個(gè)型號,分別是:

●1100-ESD(ESD試驗專(zhuān)用型號)

●1100-CDM (CDM試驗專(zhuān)用型號)

●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗專(zhuān)用型號)

日本半導體靜電測試儀可廣泛應用于器件的開(kāi)發(fā)設計評價(jià)、認證接收檢查、品保評價(jià)、操作環(huán)境評價(jià)等各種試驗用途。

ESD試驗是測試靜電放電干擾(ESD脈沖)和器件破損之間的關(guān)系。ESD干擾有HBM(人體帶電模型)和MM(機械帶電模型)兩種。Model 1100-ESD可以進(jìn)行這兩種干擾的測試。另外,還可以通過(guò)選件,追加想要進(jìn)行的ESD測試。可以對64 pin器件進(jìn)行全自動(dòng)的滿(mǎn)足標準的全引腳組合的測試。另外,帶有簡(jiǎn)單的進(jìn)行ESD波形自動(dòng)測試的軟件,準備好示波器、電流探頭、衰減器后,可以確認滿(mǎn)足標準的波形,安心的進(jìn)行ESD試驗。

日本半導體靜電測試儀本機臺在三軸構造的機械手上裝配HBM或MM的ESD發(fā)生模塊(EPG模塊),可進(jìn)行滿(mǎn)足國內外標準的ESD試驗。

CDM試驗有感應充電法(FI-CDM)和直接充電法(DI-CDM)兩種。兩種的區別是給器件充電的方法不同,但都是模擬充電好的器件引腳和金屬接觸時(shí)的干擾。本試驗裝置這兩種充電方式都可以進(jìn)行試驗。

LUP閂鎖試驗是測試由于外來(lái)噪聲(觸發(fā)源)引起的器件閂鎖抗擾度。本裝置裝備了電流脈沖、電源過(guò)電壓脈沖作為觸發(fā)源。閂鎖現象通過(guò)施加觸發(fā)后電源電流的增加來(lái)判定。為了獲得穩定的試驗結果,可能需要提供上拉/下拉以穩定Inom,本裝備通過(guò)專(zhuān)用的夾具板,用跳線(xiàn)連接。

*可通過(guò)聯(lián)系我們咨詢(xún)或自行根據希望的用途來(lái)選擇型號*

 

 

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