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半導體閂鎖測試儀7000B

簡(jiǎn)要描述:半導體閂鎖測試儀7000B產(chǎn)品用途【ESD部-滿(mǎn)足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動(dòng)測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規格電源進(jìn)行破壞判定。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-11-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:620
詳細介紹
品牌TET產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口

半導體閂鎖測試儀7000B產(chǎn)品簡(jiǎn)介7000B系列測試機臺陣容有:●7000B-E(專(zhuān)用于ESD試驗)●7000B-L(專(zhuān)用于閂鎖試驗)●7000B-EL(用于ESD/閂鎖試驗)產(chǎn)品用途【ESD部-滿(mǎn)足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標準、ESD波形自動(dòng)測試、對應引腳組合測試、高達8kV HBM測試、采用高規格電源進(jìn)行破壞判定。】【閂鎖部-滿(mǎn)足 JEITA, JEDEC, AEC標準、DUT穩定化功能 輸入引腳Max HI/Min LO和時(shí)鐘/圖形發(fā)生器為標準配置、可搭載最多10臺電源(內部6臺和外部4臺)、高溫閂鎖試驗(選件)、動(dòng)態(tài)IC的閂鎖試驗(可選)。ESD/閂鎖共用部-引腳數:128、256、512,最多10個(gè)相同的被測物連續測試。


 

半導體閂鎖測試儀7000B產(chǎn)品詳情:

*1 MM標準是400V。 可施加2kV,但持續高電壓試驗會(huì )使繼電器壽命縮短。

*2 每臺電源均具有閂鎖判定功能和電源過(guò)電壓功能。  

*3 應同時(shí)使用耐高溫熱電纜和外部夾具。  

*4 需使用示波器(3054系列),電流探頭(CT-1)和20dB衰減器。

 

 

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